在無源光網(wǎng)絡(luò)（PON）中，光纖鏈路和無源器件安裝面臨的困難要求重新審視目前的標準測試技術(shù)。

　　測試技術(shù)遇到的其他挑戰(zhàn)之一是，1490nm波長為光時域反射儀（OTDR）帶來了特殊的難題。當安裝分波器后進行測試時，OTDR必須面對高損耗和信號恢復(fù)困難的挑戰(zhàn)。本文將討論無源光網(wǎng)絡(luò)在安裝和某些測試過程中面臨的主要測試難題。

　　國際電信聯(lián)盟（ITU）公布的G.986.3建議提出了通過波長分配提高服務(wù)能力的寬帶接入系統(tǒng)。這個建議指定1490nm波長用于下行的語音和數(shù)據(jù)信號，1550nm波長用于下行的視頻信號，1310nm用于上行的語音和數(shù)據(jù)信號。

　　許多網(wǎng)絡(luò)設(shè)備和器件制造商已經(jīng)接受了ITU的G.983.3建議。因此，今天許多光纖網(wǎng)絡(luò)運營商都正在安裝光接入系統(tǒng)，這些系統(tǒng)由光線路終端（OLT）、光網(wǎng)絡(luò)終端（ONT）、WDM耦合器和1×N分波器組成（圖1）。用于光纖接入系統(tǒng)的光纖測試設(shè)備必須能測試所有三種波長。光纖網(wǎng)絡(luò)運營商和測試設(shè)備制造商對1310nm和1550nm波長相當熟悉，但是1490nm波長的出現(xiàn)給OTDR帶來了新的挑戰(zhàn)。
　　

　　圖1.　ITU　G.983.3光接入系統(tǒng)包括光線路終端、光網(wǎng)絡(luò)終端和1×N分波器。這些寬帶系統(tǒng)有三種傳輸波長。新的1490nm波長用于下行的語音和數(shù)據(jù)信號。

　　業(yè)界許多人認為1550nm處的測試足以覆蓋1490nm的范圍。這個看法只對鋪設(shè)于90年代后期或更近期的新光纖（尤其是G.652C低水峰光纖）來說是正確的。而對于90年代早期使用的舊光纖來說就存在問題了，因為當時G.652C還沒出現(xiàn)，水峰區(qū)（E波段）還沒有引起人們的興趣。由于這個原因，現(xiàn)在許多光纖測試設(shè)備制造商都考慮到為了測試PON，要為其產(chǎn)品開發(fā)1490nm測試功能。PON安裝需要完成的主要光測試包括：

　　●　　端到端的鏈路特性。
　　●　　耦合端口的損耗和反射特性。
　　●　　雙向端到端光回波損耗（ORL）和光損耗。
　　
　　端到端的鏈路特性

　　理想情況下，PON應(yīng)該在每段安裝后進行測試。例如，一旦光纜安裝好了，就應(yīng)該在光纖末端和中心局（CO）的OLT之間完成端到端的測試。這一段室內(nèi)設(shè)備的測試是很重要的，因為它包括了許多聯(lián)系緊密的器件，如連接器、光纜、機械接頭和熔融接頭。如果可能，應(yīng)該進行雙向測試，因為尺寸不均勻的纖芯會導(dǎo)致不同方向的損耗有所不同。

　　過去，因為OTDR的盲區(qū)不足以測量到互相靠得很近的器件，所以用功率計和信號源測量室內(nèi)設(shè)備的特性。現(xiàn)在，測試設(shè)備制造商提供的OTDR有1m的盲區(qū)和6m的衰減盲區(qū)，因此能夠定位每個器件和光纖的彎曲。當光纖過度彎曲時，通過比較1310nm、1490nm和1550nm處的損耗可以容易地探測出來。彎曲過度時，長波長處比短波長處有更高的損耗。

　　測量時要確保在每個波長──1310nm、1490nm和1550nm處都有足夠的光纖衰減。光纖衰減應(yīng)該用OTDR測量。新的G.652C光纖的典型衰減參數(shù)是：1310nm處為0.33dB/km、1490nm處為0.21dB/km、1550nm處為0.19dB/km。從CO接線板到分波器（在連接之前）和從分波器到ONT的每條光纖都應(yīng)該測量。
　　
　　安裝分波器后的測試

　　在安裝了分波器后，分波器的每個輸出端口和OLT之間都應(yīng)該進行端到端測試。當下路終端安裝后，每個下路終端和OLT之間也應(yīng)該進行測試。

　　針對PON的OTDR可以順利完成安裝分波器后的測試。事實上，傳統(tǒng)的OTDR根據(jù)用戶的配置可以識別出高達3dB至7dB的損耗，這與光纖末端的損耗一樣高。通過修改OTDR的分析方法和調(diào)整OTDR的信號恢復(fù)能力，OTDR在分波器之后能夠測出高達20dB的損耗。

　　從CO到分波器，再從分波器到所有ONT也建議進行測試，這可以通過點到多點OTDR測試來實現(xiàn)。然而，只有從分波器到ONT的下行光纖都是互不相同的，點到多點的測試才是可能的（圖2）。

　　

　　圖2.　　當安裝無源光網(wǎng)絡(luò)時，從CO到分波器，再從分波器到所有ONT建議用OTDR進行測試。然而，只有從分波器到ONT的下行光纖都是相互分開的，測試才是可能的。

　　當耦合器（分波器）和來自CO的光纖連接后，建議測量耦合器的損耗和反射特性以檢驗這些參數(shù)與制造商給出的是否一致。OTDR與裸光纖適配器和脈沖抑制器一起使用，可以完成這項測量。測量在耦合器輸出端和CO的OLT之間進行，從而確定每個分波器端口在1310nm、1490nm和1550nm處的損耗。測量必須使用脈沖抑制器才能完成；否則，分波器的損耗將落在OTDR的盲區(qū)內(nèi)，無法測出來。按ITU-T　G.983.1，耦合器端口的反射應(yīng)該是-35dB或者更好。
　　
　　雙向損耗測量

　　根據(jù)ITU-T　G.983.4建議，B類PON的總損耗預(yù)算是22dB，C類PON是27dB（B類和C類是根據(jù)激光器和光器件的質(zhì)量區(qū)分的）。這一損耗預(yù)算是相當緊張的，尤其是使用高端口數(shù)的分波器時。因為輸入功率要分給幾個輸出端口，PON中的分波器有固有的分波損耗。分波損耗取決于分波比例，1:2的分波器大約是3dB，每增加一個輸出端口相應(yīng)增加3dB損耗。一個1:32的分波器有至少15dB的分波損耗。這個損耗在下行和上行信號中都是存在的。加上WDM耦合器、接頭、連接器和光纖本身的損耗，就容易理解為什幺在安裝時必須精確地雙向測量端到端光損耗。

　　除了光損耗，端到端鏈路光回波損耗（ORL）的測量也是非常重要的。ORL的不利影響包括干擾光源信號、增加數(shù)字系統(tǒng)的誤碼率、降低系統(tǒng)光信噪比、增強激光器輸出功率的波動和永久損壞激光器。

　　有些光損耗測試儀既包括損耗測量也包括ORL測量。此類測試設(shè)備能在每個PON傳輸鏈路上很好地執(zhí)行損耗和ORL測量（圖3）。
　　

　　圖3.　ITU　G.983.3提出無源光網(wǎng)絡(luò)的總損耗預(yù)算是22dB或27dB，這一損耗預(yù)算是相當緊張的，尤其是使用高端口數(shù)的分波器時。關(guān)鍵是在每個PON傳輸鏈路安裝時進行雙向光損耗和光回波損耗的測量。新的光損耗測試儀既包括損耗測量也包括ORL測量。

　　在PON測試領(lǐng)域正在開發(fā)重要的技術(shù)。OTDR和光損耗測試儀能滿足安裝階段測試的需要。在ONT的運行和維護階段使用的測試設(shè)備也在開發(fā)中。